国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区

歡迎來到寰標(biāo)網(wǎng)！ 客服QQ：772084082 加入會員
當(dāng)前位置： 首頁 > 標(biāo)準(zhǔn)詳情頁

DIN EN 62047-17 (2011-06)被替代

Semiconductor devices - Micro- electromechanical devices Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin film (IEC 47F/78/CD:2011)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

獲取原文 如何獲取原文？問客服 獲取原文，即可享受本標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)變更提醒服務(wù)！

專家解讀視頻

基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： DIN EN 62047-17 (2011-06)
發(fā)布時間：2011/6/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Draft
出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：45
替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 62047-17 (2015-12)