CEI EN 60749-38 Ed. 1 (2010)現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 38: Soft Error Test Method For Semiconductor Devices With Memory
出版：Comitato Elettrotecnico Italiano
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： CEI EN 60749-38 Ed. 1 (2010)
發布時間：2010/7/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano
標準頁數：18
標準簡介
1ED 2010 [01/07/2010]
標準備注
Classificazione CEI 309-6. (07/2010)
等同采用的國際標準
EN 60749-38:2008 - Identical
