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DIN EN 62373 (2007-01)現行

Bias-temperature Stability Test For Metal-oxide, Semiconductor, Field-effect Transistors (mosfet)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

標準編號： DIN EN 62373 (2007-01)

發布時間：2007/1/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

標準頁數：0

標準簡介

Defines a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

標準備注

Supersedes DIN IEC 62373. (01/2007)

本標準替代的舊標準

DIN IEC 62373 (2004-09)

等同采用的國際標準

BS EN 62373:2006 - Identical

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