IEC 62373 Ed. 1.0現(xiàn)行

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息

標準編號： IEC 62373 Ed. 1.0

發(fā)布時間：2006/7/18 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：International Electrotechnical Committee

標準頁數(shù)：27

標準簡介

Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

等同采用的國際標準

SN EN 62373:2006 - Identical

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