VDI/VDE 5575-2:2015現(xiàn)行

X-Ray Optical Systems - Measurement Methods - Measurement Set-Up And Methods For The Evaluation Of X-Ray Optical Systems

出版：Verlag des Vereins Deutscher Ingenieure

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： VDI/VDE 5575-2:2015

發(fā)布時(shí)間：2015/6/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Verlag des Vereins Deutscher Ingenieure

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：31

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2015 [01/06/2015]DRAFT 2013 [01/12/2013]

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

VDI/VDE 5575-2:2013

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

VDI/VDE 5575 Blatt 2 : 2019

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