VDI/VDE 5575 Blatt 2 : 2019現(xiàn)行

X-ray optical systems - Measurement methods; Measurement set-up and methods for the evaluation of X-ray optical systems

出版：Verlag des Vereins Deutscher Ingenieure

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： VDI/VDE 5575 Blatt 2 : 2019

發(fā)布時間：2019/12/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Verlag des Vereins Deutscher Ingenieure

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡介

The guideline describes the measurement setup and the methods for the evaluation of X-ray optical systems.

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

VDI/VDE 5575-2 : 2015

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