EIA JESD 435:1976 (R2009)現行

Standard For The Measurement Of Small-Signal Transistor Scattering Parameters

出版：JEDEC Solid State Technology Association

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基本信息

標準編號： EIA JESD 435:1976 (R2009)

發布時間：2009/3/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：JEDEC Solid State Technology Association

標準頁數：29

標準簡介

Describes measurement of small-signal transistor scattering parameters.

標準備注

Renamed from EIA 435. (07/2010)

本標準替代的舊標準

EIA 435:1976 (R1999)

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