EIA 435:1976 (R1999)被替代

Standard For The Measurement Of Small-signal Transistor Scattering Parameters

出版：Joint Electronics Device Engineering Council (JEDEC)

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基本信息

標準編號： EIA 435:1976 (R1999)

發布時間：1976/4/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：Joint Electronics Device Engineering Council (JEDEC)

標準頁數：0

標準簡介

Specifies the standard for the measurement of the above.

替代本標準的新標準

EIA JESD 435:1976 (R2009)

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