NF EN 62047-17:2015現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Micro-Electromechanical Devices - Part 17: Bulge Test Method For Measuring Mechanical Properties Of Thin Films

出版：Association Francaise de Normalisation

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： NF EN 62047-17:2015

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Association Francaise de Normalisation

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2015 [01/11/2015]2014 PR [01/01/2014]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Indice de classement: C96-050-17. PR NF EN 62047-17 January 2014. (01/2014)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

NF EN 62047-17:2014

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 62047-17:2015 - Identical

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