NF EN 62047-17:2014被替代

Semiconductor Devices - Micro-Electromechanical Devices - Part 17: Bulge Test Method For Measuring Mechanical Properties Of Thin Films

出版：Association Francaise de Normalisation

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基本信息

標準編號： NF EN 62047-17:2014

發布時間：2014/1/1 0:00:00

標準類別：MiscPublication

出版單位：Association Francaise de Normalisation

標準頁數：0

標準簡介

2014 PR [01/01/2014]

標準備注

Indice de classement: C96-050-17PR. PR NF EN 62047-17 January 2014. (01/2014)

替代本標準的新標準

NF EN 62047-17:2015

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