DS EN 62435-2 : 2017現(xiàn)行

ELECTRONIC COMPONENTS - LONG-TERM STORAGE OF ELECTRONIC SEMICONDUCTOR DEVICES - PART 2: DETERIORATION MECHANISMS

出版：Danish Standards

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： DS EN 62435-2 : 2017

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Danish Standards

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡介

Covers guidance on test methods that may be used to assess generic deterioration mechanisms.

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62435-2 : 1ED 2017 - Identical

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