IEC 62435-2 : 1ED 2017現(xiàn)行

ELECTRONIC COMPONENTS - LONG-TERM STORAGE OF ELECTRONIC SEMICONDUCTOR DEVICES - PART 2: DETERIORATION MECHANISMS

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： IEC 62435-2 : 1ED 2017

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：International Electrotechnical Committee

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡介

Provides deterioration mechanisms and is concerned with the way that components degrade over time depending on the storage conditions applied.

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

CEI EN 62435-2 : 1ED 2017 - Identical

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