SS EN 60749-9 Ed. 1 (2003)現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 9: Permanence Of Marking

出版：Standardiserings-Kommissionen I Sverige

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： SS EN 60749-9 Ed. 1 (2003)

發(fā)布時(shí)間：2003/10/20 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Standardiserings-Kommissionen I Sverige

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

1ED 2003 [20/10/2003]

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

UNE EN 60749-9:2003 - Identical

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