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I.S. EN 60749-38:2008現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods Part 38: Soft Error Test Method for Semiconductor Devices With Memory

出版：National Standards Authority of Ireland

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專家解讀視頻

基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： I.S. EN 60749-38:2008
發(fā)布時(shí)間：2010/1/12 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：National Standards Authority of Ireland
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：16
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Describes a procedure for measuring the soft error susceptibility of semiconductor devices with memory when subjected to energetic particles such as alpha radiation.

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-38:2008 - Identical