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EN 60749-28:2017現(xiàn)行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 28: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Charged Device Model (Cdm) - Device Level (Iec 60749-28:2017)
出版：European Committee for Standards - Electrical
專家解讀視頻
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： EN 60749-28:2017
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：European Committee for Standards - Electrical
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：54
標(biāo)準(zhǔn)簡介
2017 [01/06/2017]
等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)
I.S. EN 60749-28:2017 - Identical
DS EN 60749-28:2017 - Identical
NEN EN IEC 60749-28:2017 - Identical
DIN EN 60749-28:2018 - Identical
