DIN EN 60749-28:2018現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 28: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Charged Device Model (Cdm) - Device Level (Iec 60749-28:2017)
出版：Verband Deutscher Elektrotechniker
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基本信息
標準編號： DIN EN 60749-28:2018
標準類別：Standard
出版單位：Verband Deutscher Elektrotechniker
標準頁數：46
標準簡介
2018 [01/02/2018]DRAFT 2012 [01/07/2012]
等同采用的國際標準
EN 60749-28:2017 - Identical
