NEN EN IEC 60749-26:2007被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 26: Electrostatic Discharge (esd) Sensitivity Testing - Human Body Model (hbm)
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： NEN EN IEC 60749-26:2007
發布時間：2007/11/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：27
標準簡介
Defines a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined human body model(HBM) electrostatic discharge (ESD).
替代本標準的新標準
