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PN EN 60749-14:2005現行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 14: Robustness Of Terminations (lead Integrity)

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息
標準編號： PN EN 60749-14:2005
發布時間：2005/11/18 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Polish Committee for Standardization
標準頁數：16
標準簡介

2005 [18/11/2005]2004 [15/06/2004]

等同采用的國際標準

EN 60749-14:2003 - Identical

IEC 60749-14 Ed. 1.0 - Identical