NEN EN IEC 60749-44:2016現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 44: Neutron Beam Irradiated Single Event Effect (See) Test Method For Semiconductor Devices
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： NEN EN IEC 60749-44:2016
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：41
標準簡介
2016 [01/11/2016]
等同采用的國際標準
BIS IS/IEC 61558-2-6 : 1ED 2016 - Identical
EN 60749-44 : 2016 - Identical
EN 60749-44:2016 - Identical
