PN EN 60749-2:2004現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 2: Low Air Pressure

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： PN EN 60749-2:2004

發(fā)布時間：2004/8/26 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Polish Committee for Standardization

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：8

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2004 [26/08/2004]2003 [15/08/2003]

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-2 Ed. 1.0 - Identical

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