CEI EN 60749-14 Ed. 1 (2004)現行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 14: Robustness Of Terminations (Lead Integrity)

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標準編號： CEI EN 60749-14 Ed. 1 (2004)

發布時間：2004/11/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標準頁數：22

標準簡介

1ED 2004 [01/11/2004]

標準備注

Classificazione CEI 47-37. (01/2005) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008)

本標準替代的舊標準

CEI EN 60749:2000

等同采用的國際標準

IEC 60749-14 Ed. 1.0 - Identical

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