CEI EN 60749-3 : 2004現行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 3: EXTERNAL VISUAL EXAMINATION

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

獲取原文如何獲取原文？問客服獲取原文，即可享受本標準狀態變更提醒服務！

專家解讀視頻

基本信息

標準編號： CEI EN 60749-3 : 2004

發布時間：2004/1/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標準頁數：12

標準簡介

Describes the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document.

本標準替代的舊標準

CEI EN 60749 : 2000 AMD 2 2004

等同采用的國際標準

IEC 60749-3 : 2.0 - Identical

EN 60749-3 : 2017 - Identical

国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区

CEI EN 60749-3 : 2004現行

申請獲取原文權限