CEI EN 60749-11 : 2004現行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 11: RAPID CHANGE OF TEMPERATURE - TWO-FLUID-BATH METHOD

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標準編號： CEI EN 60749-11 : 2004

發布時間：2004/1/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標準頁數：16

標準簡介

Defines the rapid change of temperature test method and the two-fluid-bath method.

本標準替代的舊標準

CEI EN 60749 : 2000 AMD 2 2004

等同采用的國際標準

IEC 60749-11 : 1.0 - Identical

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