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VDE 0884-135-2:2017現(xiàn)行

Electronic Components - Long-Term Storage Of Electronic Semiconductor Devices - Part 2: Deterioration Mechanisms (Iec 62435-2:2017)

出版:Verband Deutscher Elektrotechniker

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào): VDE 0884-135-2:2017
標(biāo)準(zhǔn)類別:Standard
出版單位:Verband Deutscher Elektrotechniker
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):0
標(biāo)準(zhǔn)簡介

2017 [01/10/2017]

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 62435-2 : 2017 - Identical

IEC 62435-2 : 1ED 2017 - Identical

DIN EN 62435-2 : 2013 - Corresponds

DIN EN 62435-2 : 2013 - Corresponds

EN 62435-2:2017 - Identical