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DIN EN 60749-18 (2003-09)現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 18: Ionizing Radiation (total Dose)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： DIN EN 60749-18 (2003-09)
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Covers a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 ([60]Co) gamma ray source.

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-18:2003 - Identical

UNE EN 60749-18:2003 - Identical

SS EN 60749-18 Ed. 1 (2003) - Identical

IEC 60749-18 Ed. 1.0 - Identical

I.S. EN 60749-18:2003 - Identical

NF EN 60749-18:2003 - Identical

NBN EN 60749-18:2003 - Identical

SN EN 60749-18:2003 - Identical

BS EN 60749-18:2003 - Identical