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PN EN 60749-44 : 2017現(xiàn)行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 44: NEUTRON BEAM IRRADIATED SINGLE EVENT EFFECT (SEE) TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： PN EN 60749-44 : 2017
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Polish Committee for Standardization
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0
等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

BIS IS/IEC 61558-2-6 : 1ED 2016 - Identical

EN 60749-44 : 2016 - Identical