OVE/ONORM EN 60749-2:2003現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 2: Low Air Pressure
出版：Osterreichisches Normungsinstitut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： OVE/ONORM EN 60749-2:2003
發布時間：2003/10/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Osterreichisches Normungsinstitut
標準頁數：8
標準簡介
2003 [01/10/2003]
等同采用的國際標準
IEC 60749-2 Ed. 1.0 - Identical
