OVE/ONORM EN 62373:2007現(xiàn)行

Bias-temperature Stability Test For Metal-oxide, Semiconductor, Field-effect Transistors (mosfet)

出版：Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： OVE/ONORM EN 62373:2007

發(fā)布時間：2007/3/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Osterreichisches Normungsinstitut

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：14

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2007 [01/03/2007]

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62373 Ed. 1.0 - Identical

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