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EIA JESD 22-A115:2010現(xiàn)行
Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing, Machine Model (Mm)
出版：JEDEC Solid State Technology Association
專家解讀視頻
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： EIA JESD 22-A115:2010
發(fā)布時(shí)間：2010/11/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：JEDEC Solid State Technology Association
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：14
標(biāo)準(zhǔn)簡介
Specifies a standard procedure for testing microcircuits using an electrostatic discharge (ESD) model known commonly in the industry as the Machine Model (MM).
標(biāo)準(zhǔn)備注
Supersedes EIA JESD 22 (07/2004)
本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)
