NF EN 60749-38:2006被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 38: Soft Error Test Method For Semiconductor Devices With Memory

出版：Association Francaise de Normalisation

獲取原文如何獲取原文？問客服獲取原文，即可享受本標準狀態變更提醒服務！

專家解讀視頻

基本信息

標準編號： NF EN 60749-38:2006

標準類別：MiscPublication

出版單位：Association Francaise de Normalisation

標準頁數：12

標準簡介

2006 PR [01/12/2006]

標準備注

Indice de classement: C96-022-38PR
PR NF EN 60749-38 December 2006.
(12/2006)

替代本標準的新標準

NF EN 60749-38:2008

国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区