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NBN EN 60749-13:2003現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 13: Salt Atmosphere

出版：Belgian Standards

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NBN EN 60749-13:2003
發(fā)布時(shí)間：2003/3/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Belgian Standards
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Gives a salt atmosphere test that determine the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices which specified for a marine environment.

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-13:2002 - Identical

SS EN 60749-13 Ed. 1 (2003) - Identical

I.S. EN 60749-13:2002 - Identical

NF EN 60749-13:2002 - Identical

DIN EN 60749-13 (2003-04) - Identical

BS EN 60749-13:2002 - Identical

UNE EN 60749-13:2003 - Identical

DIN EN 60749-13 : 2003 - Identical

BS EN 60749-13 : 2002 - Identical

I.S. EN 60749-13:2002 - Identical

DIN EN 60749-13 : 2003 - Identical