ASTM F1893-98(2003)被替代
Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices
出版：American Society for Testing and Materials
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： ASTM F1893-98(2003)
發布時間：1998/5/10 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：American Society for Testing and Materials
標準頁數：5
標準簡介
CONTAINED IN VOL. 10.04, 2006Outlines the detailed requirements for testing microcircuits for short pulse high dose-rate ionization-induced failure.
標準備注
Supersedes ASTM F 867M.
(04/2002)
替代本標準的新標準
