DIN EN 60749-32 : 2011現行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 32: FLAMMABILITY OF PLASTIC-ENCAPSULATED DEVICES (EXTERNALLY INDUCED)
出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
專家解讀視頻
Applique aux dispositifs semiconducteurs (les dispositifs discrets et Circuits intégrés.) Il décide si le dispositif S'enflamme suite au chauffage externe.
SN EN 60749-32 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-32:2003 - Identical
BS EN 60749-32 : 2003 - Identical
UNE EN 60749-32 : 2004 - Identical
NF EN 60749-32 : 2003 AMD 1 2011 - Identical
NBN EN 60749-32 : 2004 AMD 1 2010 - Identical
SN EN 60749-32 : 2003 - Identical
NBN EN 60749-32 : 2004 AMD 1 2010 - Identical
BS EN 60749-32 : 2003 - Identical
NF EN 60749-32 : 2003 AMD 1 2011 - Identical
EN 60749-32 : 2003 AMD 1 2010 - Identical
UNE EN 60749-32 : 2004 - Identical
I.S. EN 60749-32:2003 - Identical
IEC 60749-32 : 1.1 - Identical
