DS EN 60749-38:2008現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 38: Soft Error Test Method For Semiconductor Devices With Memory
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： DS EN 60749-38:2008
發布時間：2008/8/13 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標準頁數：20
標準簡介
Specifies a procedure for measuring the data retention capability of semiconductor devices with memory when subjected to energetic particles such as alpha radiation.
等同采用的國際標準
EN 60749-38:2008 - Identical
