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DIN EN 60749-32 (2003-12)被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 32: Flammability Of Plastic-encapsulated Devices (externally Induced)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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專家解讀視頻

基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： DIN EN 60749-32 (2003-12)

發(fā)布時(shí)間：2003/12/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡介

Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). It determines whether the device ignites due to external heating.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes DIN EN 60749 (06/2005) DRAFT AMD 1 issued in September 2009. (10/2009)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 60749 (2002-09)

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 60749-32 (2011-01)

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-32:2003 - Identical

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