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NEN EN IEC 60749-14:2003現行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 14: Robustness Of Terminations (Lead Integrity)

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息
標準編號： NEN EN IEC 60749-14:2003
發布時間：2003/11/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：27
標準簡介

2003 [01/11/2003]

等同采用的國際標準

EN 60749-14:2003 - Identical

IEC 60749-14 Ed. 1.0 - Identical