NEN 10747-11:1986現行
Semiconductor Devices - Part 11: Sectional Specification For Discrete Devices
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： NEN 10747-11:1986
發布時間：1986/6/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：50
標準簡介
Gives details of the Quality Assessment Procedures, the inspection requirements, screening sequences, sampling requirements, tests and measurement procedures required for the assessment of semiconductor devices.
等同采用的國際標準
IEC 60747-11 Ed. 1.0 - Identical
