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PN EN 60749-20:2005被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 20: Resistance Of Plastic-encapsulated Smds To The Combined Effect Of Moisture And Soldering Heat

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息
標準編號： PN EN 60749-20:2005
發布時間：2005/12/30 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Polish Committee for Standardization
標準頁數：26
標準簡介

2005 [30/12/2005]2004 [15/06/2004]

替代本標準的新標準

PN EN 60749-20:2010

等同采用的國際標準

EN 60749-20:2009 - Identical

IEC 60749-20 Ed. 1.0 - Identical