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DIN EN 62047-2 : 2007現行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MICRO-ELECTROMECHANICAL DEVICES - PART 2: TENSILE TESTING METHOD OF THIN FILM MATERIALS

出版:German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息
標準編號: DIN EN 62047-2 : 2007
發布時間:2007/1/1 0:00:00
標準類別:Standard
出版單位:German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
標準頁數:14
標準簡介

Specifies the method for tensile testing of thin film materials with length and width under 1 mm and thickness under 10[mu]m, which are main structural materials for micro-electromechanical systems (MEMS), micromachines and similar devices.

本標準替代的舊標準

DIN IEC 62047-2 : DRAFT 2004

等同采用的國際標準

IEC 62047-2 : 1.0 - Identical

EN 62047-2 : 2006 - Identical

NBN EN 62047-2 : 2007 - Identical

I.S. EN 62047-2:2006 - Identical

NF EN 62047-2 : 2006 - Identical

BS EN 62047-2 : 2006 - Identical

NBN EN 62047-2 : 2007 - Identical

BS EN 62047-2 : 2006 - Identical

NF EN 62047-2 : 2006 - Identical

I.S. EN 62047-2:2006 - Identical