NEN EN IEC 60749-5:2003被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-state Temperature Humidity Bias Life Test
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： NEN EN IEC 60749-5:2003
發布時間：2003/7/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：13
標準簡介
Provides a steady-state temperature and humidity bias life for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.
替代本標準的新標準
