EIA JESD 22 A108:2010被替代
Temperature, Bias, And Operating Life
出版：JEDEC Solid State Technology Association
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： EIA JESD 22 A108:2010
發布時間：2010/11/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：JEDEC Solid State Technology Association
標準頁數：14
標準簡介
Ascertains the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. Simulates the devices' operating condition in an accelerated way, and is primarily for device qualification and reliability monitoring.
標準備注
Supersedes EIA JESD 22 (07/2004)
本標準替代的舊標準
替代本標準的新標準
