SS EN 60749-38 Ed. 1 (2009)現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 38: Soft Error Test Method For Semiconductor Devices With Memory
出版：Standardiserings-Kommissionen I Sverige
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基本信息
標準編號： SS EN 60749-38 Ed. 1 (2009)
發布時間：2009/1/26 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Standardiserings-Kommissionen I Sverige
標準頁數：0
標準簡介
1ED 2009 [26/01/2009]
等同采用的國際標準
EN 60749-38:2008 - Identical
