EIA JESD 22-A110:2009被替代

Highly Accelerated Temperature And Humidity Stress Test (hast)

出版：JEDEC Solid State Technology Association

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專家解讀視頻

基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： EIA JESD 22-A110:2009

發(fā)布時(shí)間：2009/1/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：JEDEC Solid State Technology Association

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Describes the reliability of nonhermetic packaged solid state devices in humid environments.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes EIA JESD 22 (07/2004)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

EIA JESD 22:1987

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

EIA JESD 22-A110:2010

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