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半導體發光二極管芯片測試方法
半導體發光二極管芯片測試方法 現行
Measurement methods for chips of light emitting diodes
標準號：SJ/T 11399-2009
基本信息
標準號：SJ/T 11399-2009
發布時間：2009-11-17
實施時間：2010-01-01
首發日期：
出版單位：電子工業出版社查看詳情>
起草人：鮑超、胡愛華、牟同升、李明遠、彭萬華
出版機構：電子工業出版社
標準分類： 微波、毫米波二、三極管
ICS分類：光電子學、激光設備
起草單位：中國光學光電子行業協會光電器件分會、廈門華聯電子有限公司、杭州浙大三色儀器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司
歸口單位：工業和信息化部電子工業標準化研究所
發布部門：工業和信息化部
主管部門：工業和信息化部電子工業標準化研究所
標準簡介
主要規定了電學參數、熱學參數、色度學參數以及靜電放電敏感性測試等主要性能參數的測試方法。
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