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半導(dǎo)體集成電路電平轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 已廢止

Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for level translator

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：SJ/T 10804-2000

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：SJ/T 10804-2000
發(fā)布時(shí)間：2000-12-28
實(shí)施時(shí)間：2001-03-01
首發(fā)日期：
出版單位：電子工業(yè)出版社查看詳情>
起草人：李燕榮
作廢日期：2011-08-15
出版機(jī)構(gòu)：電子工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 微電路綜合
ICS分類：集成電路、微電子學(xué)
提出單位：中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本規(guī)范規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電平轉(zhuǎn)換器（以下簡(jiǎn)稱器件）電特性測(cè)試方法的基本原理。本規(guī)范適用于半導(dǎo)體集成電路雙極型電平轉(zhuǎn)換器電特性的測(cè)試。

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