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環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射及其試驗導(dǎo)則
環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射及其試驗導(dǎo)則 現(xiàn)行
Enviromental testing—Part 2:Test methods—Test Sa:Simulated solar radiation at ground level and guidance for solar radiation testing
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 2423.24-2013
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 2423.24-2013
發(fā)布時間：2013-11-12
實施時間：2014-03-07
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：張志勇、楊彥彰、張紅雨、袁宏杰、倪一明
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：環(huán)境試驗
提出單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(SAC/TC 8)
起草單位：中國電器科學(xué)研究院有限公司、威凱檢測技術(shù)有限公司、深圳市計量質(zhì)量檢測研究院、浙江省計量科學(xué)研究院、北京航空航天大學(xué)、無錫蘇南試驗設(shè)備有限公司
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(SAC/TC 8)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(SAC/TC 8)
標(biāo)準(zhǔn)簡介
GB/T2423的本部分提供對設(shè)備或部件在太陽輻射條件下試驗的指導(dǎo)。試驗?zāi)康氖菫榱藱z查設(shè)備或部件受太陽輻射影響的程度。綜合試驗的方法可檢測電、機(jī)械或其他物理性能的變化。
標(biāo)準(zhǔn)摘要
|
本部分是GB/T2423的第24部分,GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄NA。 本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。 本部分代替GB/T2423.24—1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射》和GB/T2424.14—1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 太陽輻射試驗導(dǎo)則》。本部分整合了GB/T2423.24—1995及GB/T2424.14—1995的相關(guān)內(nèi)容,與GB/T2423.24—1995和GB/T2424.14—1995相比,主要技術(shù)變化和編輯性修改如下: ———增加了目次、前言; ———增加了第2章“規(guī)范性引用文件”、第3章“術(shù)語和定義”、第10章“試驗報告中應(yīng)給出的信息”; ———刪除了GB/T2423.24—1995中4.6對試驗持續(xù)時間的推薦值; ———刪除了GB/T2424.14—1995第9章“危險和人身安全”; ———刪除了GB/T2424.14—1995的附錄A“輻射強(qiáng)度調(diào)整的計算”、附錄B“經(jīng)基底的熱傳輸”; ———GB/T2424.14—1995第8章“試驗結(jié)果的解釋”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄A,并在內(nèi)容上做了修改; ———GB/T2424.14—1995第5章“輻射光源”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄B,并在內(nèi)容上做了修改; ———GB/T2424.14—1995第6章“測量儀表”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄C,并在內(nèi)容上做了修改; ———溫度偏差的單位用“K”取代“℃”; ———光譜能量分布由CIE20推薦值改為CIE85推薦值; ———在附錄C中,規(guī)定了采用ISO4892描述的設(shè)備進(jìn)行本部分規(guī)定的試驗。 本部分采用翻譯法等同采用IEC60068-2-5:2010《環(huán)境試驗 第2-5部分:試驗 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射及其試驗導(dǎo)則》。 與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下: ———GB/T2421.1—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 概述和指南(IEC60068-1:1988,IDT) ———GB/T2423.1—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007,IDT) ———GB/T2423.2—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-2:2007,IDT) ———GB/T2423.3—2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗(IEC60068-2-78:2001,IDT) 本部分與IEC60068-2-5:2010相比,主要做了下列編輯性修改: ———本部分的名稱改為:“環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射及其試驗導(dǎo)則”; ———IEC原文第2章中的引用文件“CIE85:1985”年份有誤,應(yīng)為“CIE85:1989”,本部分予以更正,見腳注1); ———增加了腳注2); ———更正了表1中紅外線輻照度數(shù)值,由“186 W/m2”改為“411.62 W/m2”,增加了表1的注和腳注b; ———正文中三處升降溫速率由原文的“1K/min的速率”改為“小于1K/min的速率”,見條文腳注3)、4)、5); ———為與GB/T2423的其他部分保持一致,第10章的列項未采用表格形式; ———增加了資料性附錄“GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分”(見附錄NA); ———附錄C中規(guī)定了使用ISO4892標(biāo)準(zhǔn)描述的試驗設(shè)備來進(jìn)行本部分規(guī)定的試驗,但附錄C是一個資料性附錄,給出要求是不妥的,為此,附錄C中增加了腳注6),予以說明。 本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(SAC/TC8)提出并歸口。 本部分起草單位:中國電器科學(xué)研究院有限公司、威凱檢測技術(shù)有限公司、深圳市計量質(zhì)量檢測研究院、浙江省計量科學(xué)研究院、北京航空航天大學(xué)、無錫蘇南試驗設(shè)備有限公司。 本部分主要起草人:張志勇、楊彥彰、張紅雨、袁宏杰、倪一明。 本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為: ———GB/T2423.24—1981、GB/T2423.24—1995; ———GB/T2424.14—1981、GB/T2424.14—1995。 |
標(biāo)準(zhǔn)目錄
| 前言 Ⅲ 1 范圍 1 2 規(guī)范性引用文件 1 3 術(shù)語和定義 1 4 一般說明 2 5 試驗條件 3 6 初始檢測 4 7 試驗 4 8 最后檢測 6 9 相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息 6 10 試驗報告中應(yīng)給出的信息 7 附錄A (資料性附錄) 試驗結(jié)果的解釋 8 附錄B(資料性附錄) 輻射源 10 附錄C (資料性附錄) 測量儀表 11 附錄NA (資料性附錄) GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分 13 參考文獻(xiàn) 16 |
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