
300~900μm Silicon slices-Measuring of interstitial oxygen content-Infrared absorption method
標準號:GB/T 14143-1993
基本信息
標準號:GB/T 14143-1993
發布時間:1993-02-06
實施時間:1993-10-01
首發日期:1993-02-06
出版單位:中國標準出版社查看詳情>
起草人:
作廢日期:2006-11-01
出版機構:中國標準出版社
標準分類: 金屬無損檢驗方法
ICS分類:
29.040.30
起草單位:機電部第四十六研究所
歸口單位:中國有色金屬工業協會
發布部門:國家技術監督局
主管部門:中國有色金屬工業協會
標準簡介
本標準規定了用紅外吸收法測定厚度為300~900μm的硅片間隙氧含量的方法。本標準適用于室溫電阻率大于0.1Ω·cm的硅片間隙氧含量的測量。
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構,邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構,邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構,邀您申請入駐~