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半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 現(xiàn)行

General principles of measuring methods of V/F and F/V converters for semiconductor integrated circuits

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 14114-1993

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 14114-1993
發(fā)布時(shí)間：1993-01-21
實(shí)施時(shí)間：1993-08-01
首發(fā)日期：1993-01-21
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 半導(dǎo)體集成電路
ICS分類：集成電路、微電子學(xué)
起草單位：上海件五廠
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器的電參數(shù)測(cè)試。

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