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半導體集成電路 電壓調整器測試方法的基本原理
半導體集成電路 電壓調整器測試方法的基本原理 廢止
Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods of voltage regulator
標準號：GB/T 4377-1996
基本信息
標準號：GB/T 4377-1996
發布時間：1996-07-09
實施時間：1997-01-01
首發日期：1984-05-13
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：張寶華、李龍文、沈琪
作廢日期：2018-08-01
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 半導體集成電路
ICS分類：集成電路、微電子學
提出單位：中華人民共和國電子工業部
起草單位：全國集成電路標委會模擬分會
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
發布部門：國家技術監督局
主管部門：信息產業部（電子）
標準簡介
本標準規定了半導體集成電路電壓調整器電特性測試方法的基本原理。本標準適用于半導體集成電路電壓調整器電特性的測試，不適用于雙端（單端口）器件。
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