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電信設(shè)備內(nèi)部電磁發(fā)射診斷技術(shù)要求和測量方法(150kHz～1GHz)第4部分:傳導(dǎo)發(fā)射測量 1Ω/150Ω直接耦合方法 現(xiàn)行

Interior of Telecommunication Equipment-Measurement of Electromagnetic Emissions-150kHz to 1GHz Part 4:Measurement of Conducted Emissions-1Ω/150Ω Direct Coupling Method

標(biāo)準(zhǔn)號：YD/T 1690.4-2007

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：YD/T 1690.4-2007
發(fā)布時(shí)間：2007-09-29
實(shí)施時(shí)間：2008-01-01
首發(fā)日期：
起草人：
標(biāo)準(zhǔn)分類： 電磁兼容
ICS分類：發(fā)射

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本部分規(guī)定了通過1Ω阻抗的探頭對集成電路傳導(dǎo)電磁騷擾（EME）進(jìn)行直接射頻（RF）電流測量和使用150Ω耦合網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行射頻電壓測量的方法。本部分適用于工作頻率范圍在150kHz～1GHz的電信設(shè)備內(nèi)部的集成電路。

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